从检查缺陷去提升良率, 不再在生产蓝宝石的时候猜测了

为了减少晶体的缺陷和提高产量,典型的生产团队必需要做出很多的推测去优化长晶的工艺。

虽然缺陷本身带着可供参考的资料,可是在目前的检查方法之下, 大部分的资料只能在取棒、切、磨、抛以迄完成品之后才被发现,实在是为时已晚。

我們將向你报告如何利用自动化的缺陷检测设备,去缩短反馈的过程,並迖至提高良率。

报告将演示:

  • 客观地检查(也可以作个别的观察)晶砣和晶棒中缺陷的大小和形态。
  • 从质量控制自动化之中,我们可以得到哪些资料?
  • 通过长时间对缺陷数据的收集,揭示了蓝宝石质量的趋向
  • 在蓝宝石的缺陷之中引导我们寻找在长晶过程中所发生的异状或参数

Sapphire quality control lecture by Scientific Visual

地点:2016深圳光博展,中国广东省深圳市福田区福华三路深圳会展中心。
主讲人:伊万·奥尔洛夫博士 (首席執行官) ,可视科学SA,瑞士

本活动是第二届蓝宝石技术与市场的一部分,由Yole及CIOE主办

详细议程,请参考:http://www.i-micronews.com/agenda-sapphire-2016.html

Scientific Visual 设备信息将于3G10号展位展出,东荣电子有限公司同仁会为您详细介绍,欢迎蒞临指导