Présentation : l’inspection de saphir de 350 kg ouvre les portes à une traçabilité complète des défauts lors du processus de fabrication des LED

Ivan Orlov, directeur de Scientific Visual a fait une présentation lors de CSTIC, conférence annuelle sur la technologie des semi-conducteurs en Asie, organisée par SEMICON China en mars 2021 à Shanghai.

La présentation intitulée “350 kg Sapphire Inspection Facility Open Doors for Complete Defect Traceability across LED Manufacturing Process” (l’inspection de saphir de 350 kg ouvre les portes à pour une traçabilité complète des défauts lors du processus de fabrication des LED) couvre les avancées récentes pour le contrôle qualité précoce des cristaux Kyropoulos.