Автоматический анализ дефектности
Сканеры Scientific Visual дают возможность обнаружить внутренние дефекты — пузыри, трещины, включения и ‘дым’ — в необработанных кристаллах.
Мы работаем с сапфиром, рубином, стеклами, флюоритом, карбидом кремния и полупроводниковыми кристаллами
Теперь вы можете картографировать дефектные области на ранних стадиях — прямо в необработанном кристалле или цилиндре — и отправлять на дорогостоящую обработку только качественный материал.
Каждый сканер настраивается под Ваши критерии качества и накапливает объективную статистику о дефектах роста.
Scientific Visual обслуживает три ключевых рынка: производтство часов, полупроводников и оптических приборов.
![]() |
Скачать брошюру “SapphiroScan™ для производителей часов” (на английском) |
Хотите увидеть все дефекты в монокристалле лейкосапфира?
В этом фильме, записанном с помощью технологии CarrotScan™, показаны дефекты необработанного лейкосапфира диаметром 32 мм, выращенного методом Вернейля. Попеременно видны поверхность кристалла и его внутренние дефекты. Цвет соответствует дефектности: от темно-синего (бездефектный сапфир) до темно-красного (максимальная дефектность). Щелкните видео, чтобы развернуть на полный экран.
До появления сканеров Scientific Visual контроль дефектности сапфировых стекол для часов производился после полной обработки и полировки стекла. Это связано с тем, что необработанные заготовки непрозрачны и позволяют заглянуть внутрь лишь после полировки. От 15 до 20% сапфировых стекол отбраковывывались после полировки из-за наличия внутренних дефектов, которые изначально были в стекле.
Это означает что сапфировая фабрика тратила не меньше 1 дня в неделю на полировку изначально дефектных заготовок!
Scientific Visual решил эту проблему создав SapphiroScan™. Этот сканер обнаруживает дефекты в необработанных сапфировых стеклах, так что на резку и полировку поступают только качественные заготовки. При средней окупаемости 6-18 месяцев, SapphiroScan™ не только улучшает выход годного и снижает производственные затраты, но также накапливает статистику дефектности, необходимую для оптимизации процесса роста.
Для производителей кристаллов Kyropolous и HEM автоматизированная станция SapphiroScope ™ предлагает быструю и рентабельную альтернативу ручному контролю качества.
В отличие от визуального контроля все сканеры Scientific Visual обеспечивают объективную оцифровку дефектов и калибруются в соответствии со стандартами заказчика, что обеспечивает быструю и точную обратную связь для ростовиков.