Лекция на Semicon China 2021 “350 kg Sapphire Inspection Facility Open Doors for Complete Defect Traceability across LED Manufacturing Process”

Генеральный директор Scientific Visual Иван Орлов выступил с докладом на крупнейшей ежегодной конференции по полупроводниковым технологиям CSTIC, в рамках выставки SEMICON в марте 2021 г. в Шанхае.

Лекция освещает последние достижения в контроле качества промышленных кристаллов, в частности:

– самый большой сканер для необработанных кристаллов, вступивший в строй в 2021 году в Швейцарии

– проект по цифровому контролю дефектов на всех стадиях производства сапфировых подложек для LED 

Презентация на английском языке: