概述
SapphiroScope™是用于检测LED和半导体行业中广泛使用的晶棒的半自动扫描器。 SapphiroScope™提供材料缺陷的3D模型，便于操作者对材料进行排序，为高效处理方法提供材料优化。
提供的功能
SapphiroScope™通过从轴向扫描晶片的前期构型获得2D切片图像，经过图像重组生成3D模型。用户可以旋转3D模型，轴向进行芯体扫描，观察任何位置的截面。
SapphiroScope™是适合于2“，4”，6“或8”圆柱形或长方形材料。
SapphiroScope™是用于检测LED和半导体行业中广泛使用的晶棒的半自动扫描器。 SapphiroScope™提供材料缺陷的3D模型，便于操作者对材料进行排序，为高效处理方法提供材料优化。
SapphiroScope™通过从轴向扫描晶片的前期构型获得2D切片图像，经过图像重组生成3D模型。用户可以旋转3D模型，轴向进行芯体扫描，观察任何位置的截面。
SapphiroScope™是适合于2“，4”，6“或8”圆柱形或长方形材料。
