Visualisateur 3D pour les scans de cristaux créés par les scanners Scientific Visual. Vous pouvez explorer un cristal, ses défauts et diverses options de carottage / wafering en tenant compte de ces défauts. Il permet d’estimer le rendement des différentes solutions de carottage et la qualité des produits finaux correspondants.

Yield ne nécessite pas de connexion à un scanner. Vous pouvez afficher les scans provenant de vos partenaires ou d’une équipe de production sur n’importe quel PC.

Qui en profite?

• Entreprises qui construisent, traitent et commercialisent des cristaux industriels
• Tous ceux qui ont besoin de surveiller la qualité de la fabrication du cristal avec une précision micrométrique

Versions gratuite et pro

Yield Demo est un logiciel gratuit en lecture seule. Les paramètres sont verrouillés sur une ou plusieurs valeurs spécifiques.
Nous vous recommandons de l’installer d’abord pour vous familiariser avec la fonctionnalité de Yield.

Envoyez votre e-mail ci-dessous pour recevoir les liens de téléchargement.

Yield Pro est une version commerciale complète avec des option avancé d’optimisation du carottage.
Écrivez-nous à sales@scientificvisual.ch pour l’acquisition d’une licence.

Fonctionnalités clés

• Visualisation du modèle 3D (fichiers SVCM)
• Visualisation des données du scanner 2D (si des fichiers de scanner SVCI bruts sont disponibles)
• Clustering des défauts avec statistiques
• Notation des défauts
• Édition de modèle 3D simple et mise en évidence
• Carottage & Planification de wafering avec des paramètres définis par l’utilisateur (limité dans la version de démonstration)
• (Pro) Calcul avancé du rendement
• (Pro) Calcul de métriques avancées
• (Pro) Métadonnées d’analyse supplémentaires
• Génération (Pro) de modèle certifié (à venir dans la prochaine version)

Documentation

• Vidéo de présentation (ci-dessous)
• Guide de l’utilisateur (bientôt disponible)

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