SapphiroScope™

Détection de défauts dans les lingots de saphir pour les industries du LED et optique

En bref

La station de travail automatisée SapphiroScope™ inspecte et évalue la qualité des lingots (cylindres ou briques rectangulaires) avant leur transformation en substrat pour  plaquettes de LED ou en composants pour l’optique. Le SapphiroScope™ fournit une vue 3D des défauts  internes du matériaux sans avoir besoin de polir ou “d’ouvrir une fenêtre”. Il permet à l’opérateur de trier les matériaux entrants, de les optimiser pour la méthode de traitement la plus efficace et de prévoir le rendement des plaquettes.

L’augmentation du rendement de la production lors de la transformation de la boule de saphir brute en plaquettes est primordiale pour l’industrie. Notre technologie permet d’augmenter les rendements à chaque étape de la transformation et contribue donc au cercle vertueux de la réduction de la consommation d’énergie. L’amélioration de la qualité du substrat de saphir devient encore plus importante lors de  la production de Micro-LED.
L’utilisation de notre système de contrôle  qualité aide à chaque étape, de la production du cristal brut à la fabrication du produit final :
– Lors de la croissance du cristal en comprenant l’influence positive et négative de chaque paramètre de croissance du four sur les formations de défauts.
– Lors de l’usinage des cristaux, des boules aux lingots et des lingots aux plaquettes. Le plan de coupe peut être optimisé en connaissant exactement la morphologie et la localisation de chaque défaut.
– En évitant le meulage, le polissage de matériaux non qualifiés
– En augmentant la qualité du substrat de la plaquette ce qui permet de réduite les problèmes de qualité des puces finales
– En augmentant le rendement final de production des LED, cela permet  d’augmenter l’adoption de lampes à faible consommation, réduisant la quantité d’énergie utilisée par la société.

Ce qu’il offre

  • Cartographie automatisée des bulles, des structures et des nuages avant le wafering
  • Mesure et classification des défauts, y compris leur position XYZ, leur taille et leur morphologie
  • Indication de bonnes / mauvaises wafers
  • Analyse en lumière polarisée pour détecter les twins, les défauts de réseau et les LAB
  • Modèle 3D des défauts à partager avec vos clients et fournisseurs.

Un modèle 3D visualise les défauts du cylindre de saphir ou d’une préforme. L’utilisateur a la possibilité de faire pivoter le modèle 3D, de parcourir le volume principal, de zoomer, de visualiser et de mesurer des défauts distincts pour indiquer des tranches défectueuses.

Cette vidéo de trois minutes montre la manipulation d’un noyau en saphir non poli: rotation, zoom, identification des défauts et wafering par un opérateur.

Cliquez dans le coin inférieur droit pour ouvrir la vidéo en taille réelle.

Ce qui est inspecté

Matériaux:

  • Saphir
  • Rubis
  • Céramique transparente
  • LTO, LTN
  • Quartz
  • Cristaux laser
  • Verre borosilicaté

Avantages clés

  • Un contrôle qualité automatisé améliore le rendement des matériaux utilisables
  • La détection précoce des défauts garantit que seul le meilleur matériau entre dans une chaîne de traitement coûteuse
  • Retour rapide et objectif à l’équipe de production
  • Mesurer l’influence des paramètres de croissance sur la qualité de la production
  • Un classement objectif, standardisé et reproductible de vos produits améliore la relation client.

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Brochure: SapphiroScope™ for LED and screen cover applications