CarrotScan™

Контроль сапфиров, выращенных методом Вернейля

Описание

 

CarrotScan – это технология, позволяющая сканировать цилиндрические монокристаллы лейкосапфира диаметром 22-62 мм и отображать их внутренние дефекты, независимо от типа, размера и местоположения, до того как кристалл пойдет в дорогостоящую обработку.

На сегодня это самая точная технология картирования дефектов. Впервые оператор может измерять дефекты, объективно оценивать качество кристалла, и отправлять статистику распределения дефектов ростовикам.

CarrotScan создает 3D модель були с ее дефектами, а также оптимальную схему распила, учитывающую требования к качеству и стоимость заготовок.

CarrotScan позволяет сканировать
а) необработанные “морковки” лейкосапфира до отжига
б) необработанные “морковки” лейкосапфира после отжига
в) кристаллы, которым уже придали форму правильного цилиндра.

В отличие от визуального контроля, технология гарантирует объективный и воспроизводимый результат и раяботает независимо от квалификации операторов.

Что дает
CarrotScan?

CarrotScan используется в начале технологической цепочки производства сапфира – на этапах роста и распиловки. Он позволяет производителям обнаруживать и изымать дефектный материал до того, как он поступит на дорогостоящую распиловку, а также сортировать кристаллы по качеству в соответствии с требованиями заказчика. Это увеличивает выход годного и снижает себестоимость продукции.

Для контроля уже нарезанных сапфировых дисков (как неполированных, так и полированных) на более поздних этапах производства – используйте SapphiroScan.

Дефекты в необработанной буле лейкосапфира диаметром 34 мм и длиной 220 мм.  Цвет соответствует плотности дефектов: от темно-синего (бездефектный материал) до темно-красного (максимальная дефектность). Оператор увеличивает прозрачность модели, чтобы открыть внутренние дефекты. Видео с CarrotScan™.

Характеристики

    • Минимальный обнаруживаемый дефект 15 мкм (линейный размер)

    • Диаметр сканируемых кристаллов 22-62 мм

    • Время сканирования 2-5 мин на кристалл

    • Индикация годный / негодный для будущих дисков после распила

    • Изменяемые настройки порога(-ов) качества

    • 3D модель формы кристалла и внутренних дефектов

    • Цветовой код плотности дефектов: от темно-синего (бездефектный материал) до рубинового (максимальная дефектность)

    • Объективная статистика дефектов помогает подобрать оптимальные параметры роста и заблаговременно предупредить об отклонениях в процессе роста. См. Оптимизация производства > Quality Signature.
    • Бесплатная программа для просмотра 3D моделей, которой можно поделиться с партнерами и клиентами.